xrd

单单Highscore是不能叠加xrd图像的，需要借助Origin。拓展知识：如何用Origin叠加图像：假设有3个XRD谱图，先把数据复制进Origin，如下：选中数据，直接点击Plot-Y-offset/Waterfall-Stacked Lines by Y Offsets，一键出图！看看出来的图长啥样?各副谱图沿纵轴均匀分布，自动给你安排得明明白白，根本不需要去修改数据、添加图层什么的！这时候，有些同学会说，这个谱图之间的距离有些太近了，有时候要对峰进行标记，会写不下。没关系，直接双击谱图，弹出如下对话框，选择左侧需要修改的图谱，然后把右侧Offset中的Y值适当增大，就可以增大谱图之间的间距了。然后，调整下坐标，框线，加上标记就OK啦。所以说，只要用到Stacked Lines by Y Offsets这个绝技，再多的XRD图都是分分钟搞定。而且，对于Raman、XPS、红外等等，凡是涉及到多个图堆叠的，这个方法同样适用，所以，还等什么呢，快点用起来吧！

origin作图如何把图中部分数据展开按esc键或者点右上角的rescale按钮。1、首先准备好我们的数据、2、打开Origin软件,输入数据。在软件中如下所示,进行输入数据,一定要错开输入数据,保证一个(X,Y)坐标,对应一个数值、3、选中数据,点击散点图、4、双击图中的点,选择标签,标签形式选择自定义,选择字符串形式,自动调整间距、5、这时候,图形上面的点的名称就显示出来了、6、我们会发现有标签因为数据距离太近,重叠住了,我们按住Ctrl,然后鼠标选中,就可以自由挪动标签了、7、最后我们双击图层,给其添加一个背景色、8、添加框架、9、最终我们的图就做好了。origin中将柱状图数值截成两部分（如下图如何画）分段数据写在同一行的不同column中,每一个数据代表每一小段的数值。使用plot->column/bar/pie->stackedcolumn直接出图,下图中红色部分:另外使用layercontents可以另外增加绿色的一部分数据,选取绿色部分的其他表单里的数据,按箭头添加过右面,然后点应用按钮。最后修改修改样式,外观,颜色,图例,图注,批注,等就可以变得很好看了。XRD数据处理-Origin部分这篇文章主要讲一下怎样用origin处理XRD数据。主要包括实验数据处理,标准数据处理以及多张图放到一起对比三部分。1.实验数据部分首先,我们还是要用到这个软件保存标准数据的方法已经在XRD数据处理-MDIJade部分(点击即可跳转)介绍过了,不清楚的可以再看一下。打开软件(我用的是8版本的,不同版本可能会有细微差别,但是影响不大)。导入数据,依次点击File-Open文件类型选择ASCIIDate,选择你需要处理的数据和标准卡打开就可以了。所有数据都导入以后,在左边这个栏里会显示Book1、Book2....为了避免数据过多弄乱了可以进行重命名。鼠标左键单击选中-右键-Rename对于实验数据,选中,然后点击图片红色方块部分或者也可以选中-右键-Plot-line-line。结果类似于这种,然后需要简单的处理一下。双击坐标轴,修改坐标轴范围,一般x轴设置成数据的起始点,y轴设置成从0开始。如果想让做出来的图四周都有边框,而不是只有x轴,y轴,点击Title&Format,勾选ShowAxis&Tick(图中1),Major和Minor(图中2)分别为主次坐标刻度,可视需要选择有或者没有,我的习惯是除了Bottom的其他都选择没有,这样会好看一点,Thickness(图中3)是指边框的粗细,一般选择3。依次点击左侧的Bottom、Top、Left、Right设置一遍。边框出现,但是实验数据线条显得太细。双击线条,origin的规则就是改哪点哪,将Width改成3,如果想做成彩色图可以点下面的color换成喜欢的颜色。将图片上多余的部分删去,选中-delete就可以,如果觉得坐标轴下面的数字刻度太多或者太少,双击坐标轴,改变Increment的数值。右键-addtext。在图片上添加文字,方便区分。文字选择22号字,加粗。如果有其他实验数据都按照这个方法处理。2.标准卡片处理标准卡片选中第一列和第三列-右键-Plot-Symbol-VerticalDropLine。或者点击图片上红色方框位置。双击线段上方的黑色方块,symbol选项下Size设置成为0,Droplines设置成为3。按照上边实验数据的方式,将标准卡的其他部分处理了,这样就得到了一张干干净净的图了。注意,横坐标要和实验数据的横坐标相统一。3.多张图放到一起比对选择菜单栏的Graph-MergeGraphWindows-OpenDialog。如果图片位置,图片数量需要改动,Merge选项设置成Specified,然后直接改就可以,注意图上红色方框位置,如果图片过多,可能自动设置成几排几列,一般XRD的数据都设置成一列,假如说是5张图,那么NumberofRows和NumberofColumns分别设置成5,1。VerticalGap设置成0,这样每个图片间就不会有空隙了,其他的视需要设定。成品如果感觉图中有两个横坐标不太舒服,可以删除一个,然后右键-addtext加上横纵坐标的名称(致歉:图中横坐标名称应为Strong)。纵坐标名称如果想平行于y轴,选中-右键-properties-Rotate设置成90。如果想用作投稿记得所有文字都要加粗。我第一篇论文的审稿意见有一条就是这个。这样一张图基本上就做完了。可以根据自己的喜好改变线段颜色,边框颜色,字体颜色,大小。记得保存文件,SaveProject。这个的作用是以后可以在这些数据上增添数据继续处理。导出图片使用ExportGraphs。图中1处可以改变名字,方便区分;2处选择存储位置;3处勾选上在右侧可以预览图片。XRD的处理还有很多办法,这只是其中一种方法;origin也有很多功能选项,这篇文章只是提供一个思路,熟练了自然可以触类旁通。按照这篇文章操作,投稿差不多够用了。本文首发于流萤小记_诤,更多教程以及安装包可到公众号获取。

3LCD 不错，是新技术，玩游戏的话推荐你使用家用机，分辨率高，带3D的那种，不过价格要稍高一点，要是只是自己玩玩，还有那种微型的投影，跟手机大小差不多，分辨率也不低，拿着方便，还能跟电脑和手机无线连接 给手机充电，3D智能，WIFI ,功能挺强大的,想找便宜点的可以考虑微型的

SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将S元素的峰掩盖 了

鉴别物相首先从峰位入手，如果峰位能对上，初步判定为该物质；其次，还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致，如果都一样则可肯定为该物质。峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系，如果是馒头峰则为标准的非晶，如果是明锐的尖峰则为晶体，峰越尖锐，半高宽越小，则表明晶粒越小，结晶越好。当然峰强的大小也能看出物质的含量多少，大致上，峰越强，物质含量越多。同样晶粒大小，晶格畸变，内应力的影响也会导致峰形的变化（如宽化、不对称变化等）和峰位的偏移。

XRD是X射线衍射仪的简称。其基本原理是:当X射线照射所测物质（晶体），相应晶面会产生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。而小角XRD一般是指0°~3°的测试范围，在该范围内对应的晶面一般是层间，即（00X）晶面，一般用来比较改性物质前后该晶面的层间距变化。

XRF镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。其基本原理如下：X射线发射：XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线，X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器。X射线荧光反应：样品表面的涂层对X射线产生荧光反应，释放出特征X射线，特征X射线能量与涂层材料相关。特征X射线检测：探测器接收到特征X射线，并将其转换为电信号，通过电路传输至仪器内部。涂层厚度计算：仪器根据特征X射线的能量和强度，通过预定的算法和标定曲线，计算出涂层的厚度。XRF镀层测厚仪利用X射线荧光原理，能够实现高精度的涂层厚度测量，且适用于多种材料类型和涂层体系。其优势包括非破坏性、快速测量、高精度、无需对样品进行特殊处理等。但需要注意的是，XRF镀层测厚仪的测量结果可能受样品表面平整度、涂层材料性质等因素影响，因此在实际应用中需要进行适当的样品准备和测量条件设置。

XRD：x射线衍射BET：BET比表面积测试法TEM：光电子能谱NH3-TED的工作原理：NH3是碱性气体，催化剂的酸性位会化学吸附NH3，对于NH3-TPD而言，除了预处理，核心过程就是吸附，然后升温脱附，先脱附的峰表面和催化剂的酸性位结合得比较弱，说明酸性比较弱，后脱附的峰说明结合能力强，说明酸性强。脱附的峰面积和酸性位的多少直接相关，峰面积越小，表面酸位越少，反之越多。此外如果还结合吡啶红外，还可以观测催化剂的酸是属于L酸还是B酸是从小木虫上看到的

晶型相同但晶格常数不相同，所以晶面间距不相同，根据布拉格方程就能得出不同的衍射角，以此区分晶型相同的物质。

测XRD的角度低于5度必须加挡板的原因是可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

首先简单说下原理—— 角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射. 但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便. 在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数. 实际操作过程中,一般都能得到一个XRD的测试图谱,在你尽可能提供多的信息情况下,比如物相的制备方法,所包含的元素等,与标准卡片对比,找到跟你XRD图谱一样的标准图谱,再分析,当然得到的结果中可能有多种物相,那样你就得根据你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库,匹配,然后就OK了

通过XRD图谱峰的面积和晶体含量来看物质是否合成成功。XRD：利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。利用图谱信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶体缺陷等 。

衍射仪的几何原理要搞清楚，聚焦圆要求样品被测表面与试样座上表面严格相平，否则那些来自于样品表面且平行于样品的晶面的衍射线不会聚焦到探测器。查看原帖>>

不是的。 步长即为step size。 扫描速度是扫描速度。 步长即每走一步的距离，扫描速度为单位时间所走的距离。 step size是步进扫描方式，就是说在一个度数扫描固定时间 ，然后在下一个间隔角度扫描固定时间。 测试通常是3~65°。 每秒的度数为扫描速度。 XRD 即X-ray diffraction 的缩写，中文翻译是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 扩展资料： xrd的相关要求规定： 1、xrd采取屏蔽防护和距离防护原则。 屏蔽防护是指使用原子序数较高的物质，常用铅或含铅的物质，作为屏障以吸收不必要的x线。 距离防护是指利用x线曝射量与距离平方成反比这一原理，通过增加x线源与人体间距离以减少曝射量。 2、在X线环境中要注意穿戴铅围裙、铅围脖、铅帽、铅眼镜、铅手套、铅面罩及性腺防护等，并利用距离防护原则，加强自我防护。 3、XRDX-射线衍射（Wide Angle X-ray Diffraction）主要是对照标准谱图分析纳米粒子的组成，分析粒径，结晶度等。 应用时应先对所制样品的成分进行确认。 在确定后，查阅相关手册标准图谱，以确定所制样品是否为所得。

没大看明白你的问题。不过XRD峰宽化包括仪器自带的宽化和试样引起的宽化。试样引起的宽化又和试样内部应变、晶粒尺寸和层错有关。涉及晶粒尺寸部分，XRD峰宽随晶粒尺寸减小而增加。参考谢乐公式。

怎么通过XRD图谱判断是什么物质角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射.但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便.在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数.

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怎么通过XRD图谱判断是什么物质角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射.但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便.在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数.

角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射. 但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便. 在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数. 初学者可以参看 马礼敦编的 《近代X射线多晶体衍射》化学工业出版社.刘粤惠,刘平安编《X射线衍射分析原理与应用》化学工业出版社.他们中还有介绍精修的使用,很不错.

XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。fon,匹配率，值越小越精确，表明这种物质存在的可能性越大。

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角。关于XRD的测量原理比较复杂，要知道晶体学和X射线知识。简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ，满足衍射条件，则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射。但在实际应用中，我们只需用仪器做出XRD图谱，然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类，和结构。pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库。他们制备了大量的物质，使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构。现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱，电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片，很方便。在XRD中，不仅可以定性得到物质的种类，相结构。而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数。关于这方面的学习可以登录这个网站看看http://www.xrdworld.com/

xrd测试主要测什么如下：1、XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。2、X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。3、XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。扩展资料：1、晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。2、晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。3、因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。

XRD是X射线衍射分析XRD图谱用来分析无机化合物的结构。通过XRD可以知道物质中所含的元素，以及元素的化合价，还可以通过相关的计算，得出该物质的空间点阵

XRD的测试原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角.换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的.因为晶体都会存在其特有的结晶学特征,也就是空间点阵,14种Bravais格子代表了其晶格类型,晶面参数又限定了其结点间的相对数量关系.于是,参考Bragg方程,让X射线通过晶体,只要满足Bragg衍射条件,便能提供晶体内原子排布的信息.所以,不管是采用德拜照相法、衍射仪法等,都会在θ角观测到衍射.当然,也可以说XRD的基础是Laue衍射条件,但其实它和Bragg衍射条件本质是一致的,只是表达不同. 以上为个人总结,并非网上复制,

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。根据其原理，某晶体的衍射花样的特征最主要的是两个：衍射线在空间的分布规律；衍射线束的强度。其中，衍射线的分布规律由晶胞大小，形状和位向决定，衍射线强度则取决于原子的品种和它们在晶胞的位置。因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。

XRD的测试原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角.换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的.因为晶体都会存在其特有的结晶学特征,也就是空间点阵,14种Bravais格子代表了其晶格类型,晶面参数又限定了其结点间的相对数量关系.于是,参考Bragg方程,让X射线通过晶体,只要满足Bragg衍射条件,便能提供晶体内原子排布的信息.所以,不管是采用德拜照相法、衍射仪法等,都会在θ角观测到衍射.当然,也可以说XRD的基础是Laue衍射条件,但其实它和Bragg衍射条件本质是一致的,只是表达不同. 以上为个人总结,并非网上复制,

XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD即X-ray diffraction的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。xrd的应用1、对晶体结构不完整性的研究包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。2、结构分析对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。3、液态金属和非晶态金属研究非晶态、液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。4、合金相变包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系等。

xrd的工作原理如下：XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。xrd的应用：1、对晶体结构不完整性的研究包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。2、结构分析对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。3、液态金属和非晶态金属研究非晶态、液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。4、合金相变包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系等。需知：1、晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。2、晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。

xrd 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。一种结构表征方法。

X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子(原子、离子或分子)所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。满足衍射条件，可应用布拉格公式:2dsinθ=nλ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

具体概念:http://baike.baidu.com/view/116780.html?wtp=tt检测方法:用XRD检测仪检测表征差异：跟标准图谱对比，根据波峰的差异可以得到相关的信息。

XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。1、XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。2、X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。

XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。需知：1、晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。2、晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。3、因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。

XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD即X-ray diffraction的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。xrd的应用1、对晶体结构不完整性的研究包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。2、结构分析对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。3、液态金属和非晶态金属研究非晶态、液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。4、合金相变包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系等。

1、Pyroxferroite (Fe0.86Ca0.14)SiO3 PDF#20-0001;2、Grossite, syn CaAl4O7 PDF#23-1037;3、Coesite, syn SiO2 PDF#14-0654.1、三斜铁辉石,硅酸铁钙（铁钙比例86%:14%），《粉末衍射卡片集》（PDF）第20组，第1号卡（包括晶相等的内容都在卡片上）。2、Grossite, syn，CaAl4O7 ，《粉末衍射卡片集》（PDF）第23组 第1037号卡（包括晶相等的内容都在卡片上）。3、Coesite, syn，SiO2，，《粉末衍射卡片集》（PDF）第14组 第654号卡（包括晶相等的内容都在卡片上）。你要进行晶相鉴定，就要知道那号卡片的内容，卡片的两面都有内容。你的这个结果应该是委托某个科研测试单位作出的；也应该是花了钱的。他们应该继续为你服务，把卡片的内容复制（复印、照相、扫描等）给你。如果还是没有办成，我可以托人帮助你，不过时间可能要较长时间。下面给你一点有关这方面的知识：X射线物相分析 X射线照射晶体物相产生一套特定的粉未衍射图谱或数据D-I值。其中D-I与晶胞形状和大小有关，相对强度I/I0，与质点的种类和位置有关。与人的手指纹相似，每种晶体物相都有自己独特的XPD谱。不同物相物质即使混在一起，它们各自的特征衍射信息也会独立出现，互不干扰。据此可以把任意纯净的或混合的晶体样品进行定性或定量分析。 X射线物相定性分析 粉未X射线物相定性分析无须知晓物质晶格常数和晶体结构，只须把实测数据与（粉未衍射标准联合会）发行的PDF卡片上的标准值核对，就可进行鉴定。 当然这是对那些被测试研究收集到卡片集中的晶相物质而言的，卡片记载的解析结果都可引用。《粉末衍射卡片集》（PDF）是目前收集最丰富的多晶体衍射数据集，包括无机化合物，有机化合物，矿物质，金属和合金等。1969年美国材料测试协会与英、法、加等多国相关协会联合组成粉末衍射标准联合会，收集整理、编辑出版PDF卡片,每年达到无机相各一组,每组1500-2000张不等.1967年前后,多晶粉未衍射谱的电子计示示机检索程序和数据库相继推出.日本理学公司衍射射仪即安装6个检索程序(1)含947个相的程序;(2)含2716个相的常用相程序;(3)含3549个相的矿物程序;(4)含6000个相的金属和合金程序;(5)含31799个相的无机相程序(6)含11378个相的有机相程序.每张片尾记录一个物相。PDF卡的内容和格式示意图中，卡片各栏内容：1区：晶面间距D值区，1a,1b,1c是小于90度角区的三条最强谱线的D值，1d是该物相的最大D值。2区、相对强度I/I1区：最强线为100，相对强度值对应1区的谱线。3区、衍射实验条件区 射线源，滤波片，园筒相机内径，所能测的最大面间距，相对强度测量方法，盖革计数器衍射仪法，强度标定法，目测法等。吸收校正否？参考文献。4区、晶体学参数区 晶系（Sys),空间群(S.G.前面是国际符号，后面是熊夫利符号），晶胞数据a0,b0,c0,轴率(A=a0/b0,C=c0/b0),轴角α,β,γ。单位晶胞内分子数（Z),单位晶胞体积（V),Ref(该区数据参考文献）。5区、光学及其它物性区：析射率（ε或ω分别为四方、三方、六方晶系平行于或垂直于光轴的析射率，α，β，γ分别是三斜、单斜、正交晶系的三个主析射率），光学符号(Sign)，光轴角(zV)，D密度，Dx基于XRD测试的密度，熔点(mp)，颜色(color)等。6区、样品未源、制备方法、化学成分相关资料区——S.P.(升华点），D.P.(分解温度),T.P.(转变点)。7区、物相的化学式或英文名称区——（1）对于含金及金属的氢化物、硼化物、碳化物、氮化物、氧化物等，在其化学式(常放括号内)后也给出单位晶胞的“化学式分子”数目的数字和代表布拉维空间格子类型的字母。其字母代表的14种布拉维格子为：B—体心立方cI，C—简单立方cP,F—面心立方cF,H—简单六方hP,M—简单单斜mP，N—底心单斜mC,O—间单正交oP,P—体心正交oI,R—底心正交oC，R—简单菱方hR,S—面心正交oF,T—简单四方tP,U—体心四方tI，Z—简单三斜aP。如；(ZrO2) 12M，表ZrO2属简单单斜（缩写为mP）格子，晶胞中12个ZrO2。如果两个相仅结构不同而其它特征均同，则在字母前加小写字母以资区分，如（Se)32aM，(Se)32bM。（2）对于层状结构的物相，在其化学式或化学称后也给出表示多型的符号。其中的数字部分代表单位晶胞内结单元层的数目，字母代表晶系。C-立方晶系，H-六方晶系，M-单斜晶系，O-正交晶系，R-三方晶系(菱面体),T-三方晶系(六方体),Tr-三斜晶系,Tt-四方晶系。如果两个多型体的物相，重复层数和晶系均相同，则在字母后用脚标1,2区分。如白云母的2M1物相和2M2物相。8区：物相的化学式和矿物名或俗名区——（1）此处显示点式化学式或结构式化学式。点式常乘上适当倍数以便与左边7区的化学式一致。矿物名时加括号表示是人造矿石。矿物名后也可附加如7区所用的表示多层的符号。（2）右上角用星号等注解所列数据的可靠程度（精度标签QM）：★和（六角星号★）——较高可靠性数据；i——数据可靠性稍差、已指标化的数据，强度是估计的，准确性不如星号的；（空白无符号）——数据一般性可靠；O——数据取自多相混合物，精度不高；C——由结构参数出发计算所得的数据。这些符号也标注在检索手册中每行索上的最左边，含义相同。9区：物相所有的衍射数据区。面间距d（A0）、相对强度I/I1和衍射指数hkl。本区有时出现的注解字母及其含义是：α1 ——由α1辐射产生的衍射线；β——由于β线的出现或与β线重迭而强度不确定的线；ь——宽的、弥散或模糊的衍射线；α——双线；nc ——不能被所归属晶胞解释的线；ni ——不能用所给晶胞参数指标化的线；np ——不能被所给空间群允许的线；tr ——痕迹衍射线；+ ——可能的外加指数。10区（表头）：卡片号码。（卡片组号）-（同组中卡片序号），如8-625。若衍射数据多，占用2张卡片，则第2张同样的号码后续“a”，如8-625a。有的物相给出两张卡片，第一张给出的衍射数据是峰值相对强度，第二张给出的是积分强度，这时第二张卡号码后会缀以“A”，如8-625A。

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

XRD的测试原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ为入射线波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换言之，XRD对于晶体结构的测试才是有效的。因为晶体都会存在其特有的结晶学特征，也就是空间点阵，14种Bravais格子代表了其晶格类型，晶面参数又限定了其节点间的相对数量关系。于是，参考Bragg方程，让X射线通过晶体，只要满足Bragg衍射条件，便能提供晶体内原子排布的信息。所以，不管是采用德拜照相法、衍射仪法等，都会在θ角观测到衍射。当然，也可以说XRD的基础是Laue衍射条件，但其实它和Bragg衍射条件本质是一致的，只是表达不同。用途以及制样MTEST系列原位测试仪简介及介绍：原位测试（微观力学测试+可视化监测）：在纳米尺度下对试件材料进行力学性能测试。可兼容集成扫描电子显微镜（SEM）、X射线衍射仪（XRD）、Raman光谱仪、原子力显微镜（AFM）、图像控制器（CCD）。金相显微镜等成像设备对材料发生的微观变形损伤进行全程动态监测的一种力学测试技术，深入的揭示了各类材料及其制品的微观。该课题研究项目中所建立的改型钛白粉的表征方法主要包括X射线衍射技术(XRD)(XRD)、扫描电子显微分析(SEM)、电子能谱(EDS)、红外光谱(FTIR)四种测试手段。并对每种测试手段在不同改性技术上的表征应用进行了分析，对工厂和企业在对改型钛白粉的鉴别上具有较强的理论指导和实用意义，已在江苏部分钛白粉生产企业中进行了推广应用。

不可以，一般来说用XRD或XRF需要比较纯的晶体才能解的出来，随便一个矿物就去打单晶不仅浪费钱还不能解。

XRD可以用来半定量分析，XRF经过标样校正后可以定量测元素含量

楼主问的应该是WDXRF吧WDXRF和EDXRF的主要区别和用途仪器类型 WDXRF EDXRF 分光晶体 有 无 分辨率 好 一般，轻元素不能检测 价格 昂贵 相对低 结构 复杂 较简单 首先两者都是用于元素分析的。WDXRF的X射线荧光出来后通过分光晶体分光，通过不同的波长逐一检测。EDXRFX射线荧光出来后直接被检测器收集，通过数模转换得到结果。EDXRF体积小，价格相对较低，检测速度比较快，但分辨率没有WDXRF好。望采纳~

根据元素的原子模型，原子核外电子在不同层之间发生跃迁时会释放出能量，这份能量以光电子的形式可以被捕捉到。而不同元素的核外电子跃迁时释放的能量是不同的，每个元素有自己的特征能量值。根据XRD XRF探测到的数值，可以进行分析，得出样品中各种元素的种类。里面应用到的物理原理，有玻尔原子模型，以及布拉格衍射定律nλ=2dsinθ。在公式中，n为自然数，一般取1，λ为元素特征谱线波长，d为样品（或分光晶体）晶格间距，θ为测量角。

一般测定原子序数大于Na的元素

1、工作原理不同：（1）、X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。（2）、由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。XRD可以做定性，定量分析。（3）、即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。（4）、拉曼光谱是一种散射光谱。拉曼效应起源于分子振动(和点阵振动)与转动，因此从拉曼光谱中可以得到分子振动能级(点阵振动能级)与转动能级结构。（5）、拉曼光谱仪通常大多测定的是斯托克斯散射，也统称为拉曼散射。

拉曼光谱仪是用激光激光激发出的，是散射光，对被测物质浓度有一定要求，但现阶段正在慢慢普及化； XRD是由X射线激发出的电子衍射光，更适合测量浓度较低的物质，如液体、粉末、薄膜等，目前不是很普及； 两者实现的机理完全不同！

原理不同：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。拉曼光谱（Raman spectra），是一种散射光谱。拉曼效应起源于分子振动(和点阵振动)与转动，因此从拉曼光谱中可以得到分子振动能级(点阵振动能级)与转动能级结构。

http://emuch.net/html/200701/393442.html

打开High Score程序后，选择file，open（打开）想打开的raw格式文件。

　XRD测出的数据RAW用mdi jade打开。　　1、打开MDI Jade，进入主窗口，选择菜单File，打开读入文件的对话框；　　2、双击RAW文件，读入主窗口即可。　　RAW图像就是CMOS或者CCD图像感应器将捕捉到的光源信号转化为数字信号的原始数据。

合成产物的意思

在XRD谱的PDF卡片中，第4区：晶体学参数区——晶系（Sys.）,空间群(S. G. ,前面是国际符号，后面是熊夫利符号)，晶胞数据（a0，b0，c0），轴率（A= a0/b0，C= c0/b0），轴角α、β、γ。单位晶胞内分子数（Z），单位晶胞体积(V)，Ref (该区数据参考文献)。其中，Zn，代表单位晶胞内分子数是n。如CaTiO3，它的晶体结构是CaO·TiO2；PDF卡片中，写着Z64，代表单位晶胞内分子数是64。如果是高聚物，Z后面跟着的是单体单元数。不知是不是Znic。你说的“Znic Zn ”要看出现在什么地方？上面说的Zn是出现在卡片中的“晶胞数据（a0，b0，c0），轴率（A= a0/b0，C= c0/b0），轴角α、β、γ。单位晶胞内分子数（Z），单位晶胞体积(V)”中。如果是出现在介绍化合物的语句中，就有可能是把“Zinc”混为“Znic”（铝）。Zinc就是Zn,是铝的原子符号或缩写。用Google搜索“Znic Zn”，能够找到许多“Zinc”与“Znic”相混淆的词语的实例！中国合格评定国家认可委员会- 机械,电子文档资料GB/T5009.14-2003《 Determination of zinc in foods》 ...... GB8820-1988 《Food itives-Znic gluconate》 306 deoxidize matter ...... GB16355-1996 《Radiological protection standard for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipment》 .... 球形喷口 · TF超耐力空压机油pdf · KL递进分配器 · 扩展新技术的梅特勒-托利多 ...Mg掺杂ZnO纳米晶的低温共沉淀法制备及光学性质_百度文库2010年12月6日 ... 1 图1 （ a） 纯ZnO， 掺杂ZnO 纳米晶的XRD 谱图； （ b） Mg Mg 石蜡， 纯氧化锌， .... Yellowishwhite luminescence in codoped znic oxide ［ ． ...掺杂ZnO光学性质及染料敏化太阳能电池研究_百度文库2010年12月10日... 兰州大学博上论文Abstract Znic oxide（ZnO），a ...沉积电流对ZnO薄膜的结构和光学性质的影响Influence of Deposition ...XRD分析表明ZnO薄膜为纤锌矿结构,晶粒尺寸随电流的增大而增大,择优取向随电流的变化发生了转变. ... 下载PDF阅读器. 摘要：: 采用阴极电沉积的方法在导电玻璃上制备了ZnO薄膜. ... films prepared by the oxidation of the metallic Zn [外文期刊] 1999(18) ... chemical-vapor deposition using znic acelacetonate and ozone [外文期刊] ...[PDF] 150化学文件格式: PDF/Adobe Acrobat - 快速查看Znic（II） Complex Containing. Benzimidazolyl f刊，中】／朱 ...... characterization dinuclear of zn（II）一 ...... 采用XRD，BET，H2一TPR，TEM｛41XPS ... [PDF] 国立成功大学电机工程研究所硕士论文研究生：张志谦指导教授：朱圣缘 ... - [ 转为简体网页 ]文件格式: PDF/Adobe Acrobat作者：ZQ Zhang - 2004 - 相关文章合成硫化锌掺杂锰之萤光粉，藉由不同之烧结温度，使用XRD及Raman ... Zinc sulfide ( ZnS ), as a II-VI semiconductor with a band gap energy of ...... 究，400 nm 的光是由锌空位(znic vacancies)所造成，425 nm 的光是由 ...比较例句翻译_句库_爱词霸英语... surfactants in Zincate Znic-plating solution of different concentrations, ie DE, .... By comparisons of the sample through XRD and transmittance spectra, .... 用TG- DTG技术对二氰基二硫纶- 1,10 -邻菲罗啉的Ni ,Cu ,Zn 配合物的热分解过程和 ... of recognizing 3 D object was derived by the use of angle pdf, finally, ...Znic Oxide (99.7%) - China Zno, Zinc Oxide, Zn in Oxide - [ 翻译此页 ]China Znic Oxide (99.7%) and China Zno, Zinc Oxide, Zn,provided by Mingbo Chemistry Co., Limited.Znic Sulphate - China Znic Sulphate, zinc sulphate monohydrate ... - [ 翻译此页 ]China Znic Sulphate and China Znic Sulphate, zinc sulphate monohydrate, Zinc ...显示更多来自 made-in-china.com·的搜索结果Zn(znic) Adhesive Wheel Weights Die Casting Promotion, Sales ... - [ 翻译此页 ]Zn(znic) Adhesive Wheel Weights Die Casting Promotion, Sales Promotion on Zn(znic) Adhesive Wheel ... Zinc(zn) stick-on/adhesive wheel weights die casting ...Znic Sulphate Hepta Zn 22%max-Znic Sulphate Hepta Zn 22%max ... - [ 翻译此页 ]RelatedKeywords: Zinc Sulfate Granular 22% | Znic Sulphate Hepta Zn 22%max | Zinc Sulfate Monohydrate Powder. Supplier: Yueyang Juyuan Petrochemical Co., ...Sell Zinc Powder - Suppliers Of Znic Powder, Zn Powder From China - [ 翻译此页 ]Find Sell Zinc powder, zn powder, Coatings Selling Leads offered by Qinhuangdao Taiji Ring Nano-Products Co.,Ltd from China at TradeKey.com.delute.netAll kinds of metal pipekinds of Zn-coating、zinc-aluminium alloy、Znic-nickel alloy tube. Zn-coating+white passivation( white Znic coating) ...Zinc Oxide - tradingmap.cn - [ 翻译此页 ]zinc oxide zn 45% to 65%pb<8mn<o.8 fe<10 price and payment we can negotiation... China (Mainland). u2022znic ash [ 2010-08-17 ] znic ash zn 45% to 55%pb<8mn<0.8 ...www.tradingmap.cn/buyingleadnew.php?c=054116 - 网页快照 - 类似结果znic oxide，znic oxide生产厂家，znic oxide加工制造销售edta chelated znic 制造商名录☆ 全球三百万进口商和出口商☆ edta chelated znic 供应商, ... [ 关联关键词: edta zn 15, Edta Zinc Disodium, edta chelated znic, ...provide Znic Oxide,copper sulfate,manganese sulfate,zinc sulfate ... - [ 翻译此页 ]High quality provide Znic Oxide,copper sulfate,manganese sulfate,zinc sulfate,sodium sulfite from ... a),feed-grade zinc oxide ZnO>95% Zn>76.3% Pb<50ppm ...

如何利用jade处理XRD获得晶格常数首先，需要将XRD谱图转换成txt格式。诸如jade之类的XRD分析软件支持保存成txt格式。所以，可以先在jade中打开谱图，做相关处理之后，再保存成txt格式。有时候，txt文件中会保存一些仪器信息，这时候我们需要将其他内容删除，只保留数据信息。在origin中点File,在下拉菜单中找到Import。如果只是导入一个XRD谱图，请点击Single ACSII；如果处理多图，请点击Multilple ACSII。然后将所保存的txt格式的XRD谱图导入即可。

1、首先就是xrd标准谱的获取方法有很多种，接着就是通过jade软件导。2、然后就是进行打开jade软件，导入实验测得的xrd数据，然后通过物相分析的方法找到要与其比对的xrd标准谱即可。3、找到了标准的xrd标准谱之后注意要做的就是把数据导出，这时候就会弹出标准谱的具体很多信息，还可以得到这种物质材料的一些具体结构信息，如晶格参数等等。4、最后就是进行导出标准xrd谱，具体过程为：点击如图中的保存按钮，然后选择一个文件夹保存导出的标准xrd谱，这样的话就得到了xrd标准谱了，如下图所示。

方法/步骤首先，下载一个jade5.0,然后解压到当前文件夹，打开文件夹。在文件夹内查找jade5.0应用程序，点击运行，如果出现错误339，说明电脑缺少了一些ActiveX控件在文件中搜索COMDLG32.OCX，MSCOMCT2.OCX，MSCOMCTL.OCX三个ActiveX控件，分别复制（若文件夹内没有可在网上下载然后复制粘贴）win8.0系统的点击鼠标左下角，然后点击运行，分别搜索system32，syswow64，把COMDLG32.OCX，MSCOMCT2.OCX，MSCOMCTL.OCX三个控件分别粘贴到这两个文件夹里于是jade5.0就能正常运行了，然后我们需要到网页上下载XRD-Pdf-2004，解压.打开jade5.0软件，点击pdf-setup,于是出现如下界面，点Browse，找到XRD-Pdf-2004解压文件夹，点selectall-Go。文件开始加载，约十分钟后，文件加载完成，安装完成。

应该是你只显示了图的一部分，也就是说放大了图。

打开Jade软件，点击左上角File-patterns在XRD分析中，定性分析也就是进行物相检索。通过实验测量或理论计算，建立一个“已知物相的卡片库”，将所测样品的图谱与 PDF 卡片库中的“标准卡片”一一对照，就能检索出样品中的全部物相。 2、将鼠标移动到任一“DEM00”文件上，左键双击，图谱即可在主页面显示出来。注意，这里的示例是Jade软件文件夹下自带的文件，选择对应路径即可打开自己需要处理的文件。

两者区别如下：JADE软件是专门用于XRD分析的软件，XRD分析就是X射线衍射分析，JADE通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分，材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

首先打开需要分析的XRD数据，点击左上角File的下拉菜单中“Read”，在弹出的对话框中找到我们数据储存的位置，打开。2/4如果我们的数据杂峰比较多，那么首先对图谱进行平滑处理，在上面的菜单栏中有一个键是“smooth”，点击即可对图谱进行平滑，但是要注意不要平滑次数太多，会导致图谱失真。3/4然后在平滑的左边有一个键是“Find Peaks”，即为寻峰，点击之后每个峰就被标记了出来。4/4然后点击上面菜单中的Analysis的下拉菜单中“Find Peaks”，在弹出的对话框中点击“Report”。在弹出的新的对话框中便能看到峰所对应的角度、强度、半高宽、峰面积等数据。

如何利用jade处理XRD获得晶格常数首先，需要将XRD谱图转换成txt格式。诸如jade之类的XRD分析支持保存成txt格式。所以，可以先在jade中打开谱图，做相关处理之后，再保存成txt格式。有时候，txt文件中会保存一些仪器信息，这时候我们需要将其他内容删除，只保留数据信息。在origin中点File,在下拉菜单中找到Import。如果只是导入一个XRD谱图，请点击Single ACSII；如果处理多图，请点击Multilple ACSII。然后将所保存的txt格式的XRD谱图导入即可。

这个可以说是习惯吧,起始也可以用theta,或者d-1来做横坐标 如果你看过外文文献的话,应该是能看到不同表示方法的

小角XRD衍射缩写是SAXD，小角XRD散射的缩写是SAXS，二者的原理还是有很大的区别的。衍射对应的是周期性结构引起的相干，而散射对应的是电子密度的波动。 具体可以看看这本书：也可以看看附件的那篇文献：

产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（检测方法:用XRD检测仪检测表征差异：跟标准图谱对比，根据波峰的差异可以得到

一、指代不同1、小角衍射：利用电子显微镜中聚焦的电子束照射样品，电子在原子的静电场作用下发生散射。2、XRD：通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。二、特点不同1、小角衍射：消除反射、折射和二次散射后，经放大得到试样的高分散衍射。2、XRD：用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。三、用处不同1、小角衍射：主要用于高分子物质的结构分析。2、XRD：已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。参考资料来源：百度百科-xrd参考资料来源：百度百科-电子小角衍射

1、图中1处可以改变名字，方便区分；2处选择存储位置；3处勾选上在右侧可以预览图片。XRD的处理还有很多办法，这只是其中一种方法；origin也有很多功能选项，这篇文章只是提供一个思路，熟练了自然可以触类旁通。2、用Origin左侧工具栏上的“数据范围选取工具”（双箭头那个），点击一下图标，会看到图线中的起点和终点位置分别出现两个相背的箭头，然后用鼠标分别拉动这两个箭头到你希望平滑的图线部分。按回车键确定范围。3、安装，打开origin，新建工作表（worksheet）。一般刚打开会自动新建一个工作表。把数据拷贝到工作表里面，选择数据，绘图。可以通过快捷按钮，也可以通过菜单的“plot”功能。图线如图，可以看到很多毛刺。4、你应该从XRD分析测试中心那里要来原始数据，而不是导出的TXT格式数据。5、首先需要将xrd的源文件转换成ASCII格式的文件，如用xrd分析软件将xrdml的格式源文件另存为asc文件，然后用origin的导入功能导入asc文件，之后就可以正常画图了。6、这时候我们需要将其他内容删除，只保留数据信息。在origin中点File，在下拉菜单中找到Import。如果只是导入一个XRD谱图，请点击SingleACSII；如果处理多图，请点击MultilpleACSII。然后将所保存的txt格式的XRD谱图导入即可。

syn有四个意思1、合成器 2、突触素 3、连接请求 4、同步信息符号XRD分析我不懂，我估计是第四个意思吧~

从峰的尖锐可以看出结晶度可以；从信噪比比较低，可能是操作问题，也可能是样品问题；晶面都匹配的话，从定性分析角度可以看出该物质为MoSe2的哪种晶型（你在匹配pdf卡片的时候从pdf卡片中可以找到）。如果有强峰不匹配，说明还有其他物质（如果是在基底上做的，那肯定会有基底物质的峰）如果是进过处理后的样品，则说明样品不纯。并且可以从匹配的pdf卡片中看出该物质的晶胞参数以及密度，颜色等物理参数。最后，如果还有其他条件（如温度、时间、浓度等)下的样品，还可以进行比对分析得出更多信息。有了XRD再进行SEM分析的话当然是如虎添翼，可以得到微观形貌，通过SEM的XPS还可以得出元素的定量分析数据。但是以上的分析都得不出样品的性能。具体的性能如电容等电化学性能或者还要通过循环伏安法等再进行测定。