cpk

cpk。CPK在信息安全领域是CombinedPublicKey的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。CPK组合私钥csk是标识私钥isk和分割私钥ssk相加而成，分割私钥序列是乱数序列，用于对标识私钥的加密。因为标识私钥是组合矩阵变量的线性组合，只有消除分割私钥的影响，才能暴露标识密钥的线性方程。消除分割私钥的办法是寻找分割私钥的重复。GRR是GaugeRepeatabilityandReproducibility的缩写，意思是测量系统的重复性和复现性，需要在相同的归零条件下，在短时间内取得数据。GRR指测量系统的重复性和复现性，英文是GaugeRepeatabilityandReproducibility，表示测量的重复性（Repeatability）与再生性（Reproducibility）。

过程失效模式及后果分析(Process Failure Mode and Effects Analysis,简称PFMEA) 　　PFMEA是过程失效模式及后果分析的英文简称。是由负责制造/装配的工程师/小组主要采用的一种分析技术，用以最大限度地保证各种潜在的失效模式及其相关的起因/机理已得到充分的考虑和论述。PFMEA是过程失效模式及后果分析(Process Failure Mode and Effects Analysis)的英文简称。是由负责制造/装配的工程师/小组主要采用的一种分析技术，用以最大限度地保证各种潜在的失效模式及其相关的起因/机理已得到充分的考虑和论述。 　　失效：在规定条件下（环境、操作、时间），不能完成既定功能或产品参数值和不能维持在规定的上下限之间，以及在工作范围内导致零组件的破裂卡死等损坏现象。 　　严重度（S）：指一给定失效模式最严重的影响后果的级别，是单一的FMEA范围内的相对定级结果。严重度数值的降低只有通过设计更改或重新设计才能够实现。 　　频度（O）：指某一特定的起因/机理发生的可能发生，描述出现的可能性的级别数具有相对意义，但不是绝对的。 　　探测度（D）：指在零部件离开制造工序或装配之前，利用第二种现行过程控制方法找出失效起因/机理过程缺陷或后序发生的失效模式的可能性的评价指标；或者用第三种过程控制方法找出后序发生的失效模式的可能性的评价指标。 　　风险优先数（RPN）：指严重度数（S）和频度数（O）及不易探测度数（D）三项数字之乘积。 　　顾客：一般指“最终使用者”，但也可以是随后或下游的制造或装配工序，维修工序或政府法规。CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。　　制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。　　制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。　　当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。　　CPK值越大表示品质越佳。机器能力指数(cmk, machine capability index)是最适合评估机器对于一个特殊要求的可适用性。 CMK和CPK大体上差不多公式是一致的，它是对生产设备能够满足要求及稳定性的能力评价，目前接触到的一些企业一般是要求CMK大于1.67，也有是要求大于1.33的，不过前者较为普遍！！msa　　在日常生产中，我们经常根据获得的过程加工部件的测量数据去分析过程的状态、过程的能力和监控过程的变化；那么，怎么确保分析的结果是正确的呢？我们必须从两方面来保证，一是确保测量数据的准确性/质量，使用测量系统分析（MSA）方法对获得测量数据的测量系统进行评估；二是确保使用了合适的数据分析方法，如使用SPC工具、试验设计、方差分析、回归分析等。　　MSA（MeasurementSystemAnalysis）使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析，以评估测量系统的分辨率和误差对于被测量的参数来说是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。　　测量系统的误差由稳定条件下运行的测量系统多次测量数据的统计特性：偏倚和方差来表征。偏倚指测量数据相对于标准值的位置，包括测量系统的偏倚（Bias）、线性（Linearity）和稳定性（Stability）；而方差指测量数据的分散程度，也称为测量系统的R&R，包括测量系统的重复性（Repeatability）和再现性（Reproducibility）。OTS是指首次样件，然后会有个PVS首批样件。再接下来的是2TP/2天试生产验收。接下来才是正式订单及量产。 OTS是工程认可，PVS是质量部负责。

标准差, standard deviation, 描述一整批数据里每个数据点之间的变异程度的, 这个值越大表示数据越散, 越小表示数据之间相差越小

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。 CPK值越大表示品质越佳。 Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值) 9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。 CPK与PPK都是表示制程能力的参数，现代计算中多采用Minitab软件来实现，方便快捷。

公式： Cp=T/（6σ）

公差上限 USL 100.40 输入上限值公差下限 LSL 100.00 输入下限值规格中心 U (USL+LSL)/2 100.2规格公差 T USL-LSL 0.4平均值 X Average(B2:F26) 100.23标准差 σ STDEV(B2:F26) 0.06最大值 Max MAX(B2:F26) 100.34最小值 Min Min(B2:F26) 100.00CPKU ( USL-X ) / 3σ 0.91CPKL ( X -LSL )/ 3σ 1.28CPK Min(CPKU ,CPKL) 0.91PPM (1-Norm.S.Dist(3*Cpk,ture))*1000000 3242Cp 离散趋势精确度 (USL-LSL) / 6σ 1.10Ca 集中趋势精确度 (X-U)/(T/2) 0.17Cpk Cp * ( 1 - |Ca|) 0.91

Cpk应用讲议 　　1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 　　2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. 　　Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 　　3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 　　4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 　　5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 　　6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 　　7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 　　8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 　　9. 依据公式：Cp =T/6 ， 计算出制程精密度：Cp值 　　10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 　　11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） 　　A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 　　A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 　　A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 　　B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 　　C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 　　D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。

CPK是一种衡量过程能力的指标，常用于质量管理和改进。以下是Excel格式的CPK计算公式，希望对你有帮助：1. CPK计算公式CPK = MIN(USL - MEAN,MEAN - LSL) / (3 * STD)其中USL表示上限规格线，LSL表示下限规格线，MEAN表示样本平均值，STD表示样本标准差。2. 自动计算CPK的Excel表格如果您需要自动计算CPK的Excel表格，可以通过以下步骤创建：1. 创建一个新的Excel表格。2. 输入数据并计算出样本平均值、样本标准差、上限规格线和下限规格线。3. 创建一个表格区域，并命名该区域（例如，可以将其命名为“数据区域”）。4. 在Excel菜单栏中选择“公式”，然后选择“常规计算器”按钮，在弹出的对话框中选择“CPK”公式。5. 在“CPK”公式对话框中，选择刚才创建的数据区域，并输入USL和LSL的值。6. 点击确认，即可计算出CPK值。这个表格可以根据需要进行调整和修改。建议在创建之前先了解Excel的基本操作和函数知识，以便能够更好地理解和应用该表格。

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。扩展资料应用1 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。参考资料来源：百度百科—cpk

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

USL、LSL、CPK分别代表什么？

不知道

有偏移的过程能力指数，如果偏移为0，那么cpk=cp，主要用于考察在现有人、机、料、法前提下，对合格产品的保障能力，也就是说预计产品出现不良的几率。

根据题意，目标值可以设定为（USL + LSL）/ 2 = (50 + 1) / 2 = 25.5过程偏差 = 25.5 - 35 = -9.5过程容差 = (50 - 1) / (6 * 5) = 7.5CPK = min(-9.5 / 49, 9.5 / 49) / 7.5 = -0.63 / 7.5 = -0.084

USL规格上限

ca=(x-u)/(t/2)，计算出制程准确度：ca值(x为所有取样数据的平均值)　cp=t/6σ，计算出制程精密度：cp值cpk=cp(1-|ca|)，计算出制程能力指数：cpk值　　cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）　　a++级cpk≥2.0特优可考虑成本的降低　　a+级2.0＞cpk≥1.67优应当保持之　　a级1.67＞cpk≥1.33良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为a＋级　　b级1.33＞cpk≥1.0一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为a级　　c级1.0＞cpk≥0.67差制程不良较多，必须提升其能力　　d级0.67＞cpk不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。太友spc软件

客户。 specification limit 规格限。在承认书中的规格，也就是客户规格。厂里的是为了满足客户的要求才加严要求！

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

USL/CL/LSL代表公差上限/控制线/公差下限。其中CL分UCL和LCL分别代表上控制线和下控制线。

USL=upperspecificationlimit最大公差值USL是设计规格中的一部分，中文名称之为规格上线，设计规格一般是各户方所给的规格，或工厂内部所制定的一些规格界线CP(或Cpk)是英文ProcessCapabilityindex缩写汉语译作工序能力指数，也有译作工艺能力指数过程能力指数。工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。若工序能力越高，则产品质量特性值的分散就会越小；若工序能力越低，则产品质量特性值的分散就会越大。

CPK中“Insp.Frequency”是控制图中“子组频率”的意思。控制图“均值和极差图（X-R图）”的编制步骤是：选择子组大小（n=3,4,5）;决定子组检查频率（每2小时）；选择子组数的大小（约25组）；计算数值；绘图；分析控制图上的点；采取纠正行动；采取改善行动。

Cpk与Ppk其公式皆同，其差异在于Sigma计算方式不一样。 Ppk和Cpk的区别点：1.δ的计算不一样，Ppk仅仅是用统计的方法计算，Cpk用经验公式计算（偏差很小的）2.样本取样方法不一样：Ppk要短时间内连续生产的，Cpk一般是每天取一组数据（一般5个）。Ppk的计算公式和对应的cpk计算公式相同，所不同的就是分母部分的变差不同，在此时变差是用标准偏差的计算公式进行计算的，此时的变差包含了普通因素和特殊因素产生的两种变差，也即在同一个过程下，此变差应该大于等于上面计算，cpk只考虑普通因素时的变差，当且仅当此过程只受普通因素变差影响时，两者相等，此时ppk=cpk，所以说理论上cpk应该是恒大于ppk，但很多时候计算出的ppk会略微大于cpk，这时因为cpk的变差是估算得来的，所以会有一定的误差，但并不影响对最终过程能力大小的评价。

点击如图示，启动Minitab。2.选择“文件”，点击“选择工作表”3.选择计算实例资料，点击“打开”。4.打开之后得到统计。5.点击“统计” →“质量工具” →“能力分析” →“组间/组内”。6.双击鼠标左键选择C1，填入“规格下限”和“规格上限”，然后点击” 确定”。

统计-->质量工具-->能力分析-->正态然后选择列，设置下组的大小（一般设置为5），上下限填写下：得出能力分析图，其中就有CPK值：

1、统计一组数据记录表单中，数据至少在32个以上，数据越多越能真实反映加工能力的水平。2、打开minitab软件。3、将测试获得的数据复制到minitab软件内，数据放在同一列中。4、点击软件中选择Stat点击Quality Tools然后点击Capability analys选择Normals选项。5、弹出如下对话框，在里面依次输入以下参数，点击OK确认，即可生成本文开头的CPK计算值，可以看出本组数据cpk为0.9，需要改善。

minitab做cpk的步骤为：1、统计一组数据记录表单中，数据至少在32个以上，数据越多越能真实反映加工能力的水平。2、打开minitab软件。3、将测试获得的数据复制到minitab软件内，数据放在同一列中。4、点击软件中选择Stat点击QualityTools然后点击Capabilityanalys选择Normals选项。5、弹出如下对话框，在里面依次输入以下参数，点击OK确认，即可生成本文开头的CPK计算值，可以看出本组数据cpk为0.9，需要改善。

1、CPK、UCL、LCL计算公式如下图所示：2、CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。3、纵向转换损耗 LCL (Longitudinal to differential Conversion Loss)在一个一或双端口网络中，由引导线上的纵向共模信号在网络终端上产生的横向（对称或差模）信号的量度。单位是dB。4、组合矩阵分为私钥矩阵和公钥矩阵。矩阵大小均为hx32，用（ri，j）或（Ri，j）表示，i=1..h，j=1..32。r是小于n的随机数。私钥矩阵（ri，j）用于私钥的生成，是秘密变量。公钥矩阵由私钥矩阵派生，即 ri，j G= (xi，j，yi，j) =Ri，j，是公开变量。5、分割密钥由YS序列中的w33，w34指示，从分割密钥序列中选取，并只以公钥形式存在，分割公钥序列SPKi可以文件形式公布，或记入CPK-card。

1、CPK、UCL、LCL计算公式如下图所示：2、CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。3、纵向转换损耗 LCL (Longitudinal to differential Conversion Loss)在一个一或双端口网络中，由引导线上的纵向共模信号在网络终端上产生的横向（对称或差模）信号的量度。单位是dB。4、组合矩阵分为私钥矩阵和公钥矩阵。矩阵大小均为hx32，用（ri，j）或（Ri，j）表示，i=1..h，j=1..32。r是小于n的随机数。私钥矩阵（ri，j）用于私钥的生成，是秘密变量。公钥矩阵由私钥矩阵派生，即 ri，j G= (xi，j，yi，j) =Ri，j，是公开变量。5、分割密钥由YS序列中的w33，w34指示，从分割密钥序列中选取，并只以公钥形式存在，分割公钥序列SPKi可以文件形式公布，或记入CPK-card。

1、CPK、UCL、LCL计算公式如下图所示：2、CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。3、纵向转换损耗 LCL (Longitudinal to differential Conversion Loss)在一个一或双端口网络中，由引导线上的纵向共模信号在网络终端上产生的横向（对称或差模）信号的量度。单位是dB。4、组合矩阵分为私钥矩阵和公钥矩阵。矩阵大小均为hx32，用（ri，j）或（Ri，j）表示，i=1..h，j=1..32。r是小于n的随机数。私钥矩阵（ri，j）用于私钥的生成，是秘密变量。公钥矩阵由私钥矩阵派生，即 ri，j G= (xi，j，yi，j) =Ri，j，是公开变量。5、分割密钥由YS序列中的w33，w34指示，从分割密钥序列中选取，并只以公钥形式存在，分割公钥序列SPKi可以文件形式公布，或记入CPK-card。

1、CPK、UCL、LCL计算公式如下图所示：2、CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。3、纵向转换损耗 LCL (Longitudinal to differential Conversion Loss)在一个一或双端口网络中，由引导线上的纵向共模信号在网络终端上产生的横向（对称或差模）信号的量度。单位是dB。4、组合矩阵分为私钥矩阵和公钥矩阵。矩阵大小均为hx32，用（ri，j）或（Ri，j）表示，i=1..h，j=1..32。r是小于n的随机数。私钥矩阵（ri，j）用于私钥的生成，是秘密变量。公钥矩阵由私钥矩阵派生，即 ri，j G= (xi，j，yi，j) =Ri，j，是公开变量。5、分割密钥由YS序列中的w33，w34指示，从分割密钥序列中选取，并只以公钥形式存在，分割公钥序列SPKi可以文件形式公布，或记入CPK-card。

计算公式如下：

有个CPK不良率对照表，你查一下。 太友SPC在线论坛欢迎您！ 关于Cpk为了防止Cpk计算的混淆，出现了一个新的指数Ppk=z\l1$ P 峰度（Kurtosis）

去看SPC 手册。上面有详细的计算公式和方法，